Laser Scan 3D

Il rilievo ad alta definizione o HDS (High-Definition Surveying) é una descrizione nuova di ciò che viene definito come “scansione laser”, infatti ciò che caratterizza questa tecnologia dai metodi di rilievo classici è proprio l’alta densità dei dati. I dati vengono presentati sullo schermo del computer, valorizzati da effetti di colori e visualizzati in 3D, fornendo un contributo di completezza che si traduce in un miglior elaborato finale, caratterizzato da:
Il principio di funzionamento del laser scan (1) consiste nel misurare distanze sulla base
del tempo impiegato dalla luce laser per raggiungere l'oggetto e tornare indietro mediante
una unità laser ad alta velocità, tale principio è detto TOF (Time Of Flight) (2).
La misura delle distanze avviene mediante delle linee di scansione realizate mediante
specchi poligonali rotanti Il Laser Scan è
composto da uno specchio prismatico che esegue la scansione verticale (3),
mentre la rotazione sull’asse principale (4) effettua la scansione orizzontale.
Il dato acquisito è costituito da misura distanza, segnale radiometrico, direzione
azimutale e zenitale, osservazioni che opprtunamente modellate permettono di ottenere
il DEM puntuale dell'oggetto.
La connessione computer – Laser Scan avviene attraverso una porta parallella che
ha il compito di scaricare i dati rilevati in modo veloce ed efficiente,
mentre il controllo dello scanner è fatto dal computer stesso via porta seriale.

L’invio di impulsi laser con passi angolari costanti orizzontali e verticali,
produce una griglia di misura regolare detta “footprint”, o nuvola di punti dalla cui
densità dipende la risoluzione del rilievo effettuato.
Un quadro standard di misura è costituito da una matrice di 443 x 443 punti
con passo di 0,18 deg. Il cono del raggio laser ha un angolo di apertura
di 3,5 mrad ( circa 30 cm a 100m ) all’interno del cono viene rilevata la riflettanza
media del laser per determinarne la distanza dalla sorgente.

Immagine virtuale di Riflettanza

L’intensità della energia riflessa dipende dalla distanza del punto misurato così
come dal tipo di materiale e dallo stato della superficie riflettente in esame.
E’ possibile associare ad i valori di riflettanza informazioni sulle superfici
misurate o sui materiali che le costituiscono.



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